Defekty sieci krystalicznej

Zdjęcie z mikroskopu elektronowego defektu (a, Mo zamieniony na S) i luki (b, brakujące atomy S) w monowarstwie disiarczku molibdenu. Skala odcinka: 1 nm.[1]

Defekty sieci krystalicznej, defekty struktury krystalicznej[2] – niedoskonałości kryształów polegające na punktowym lub warstwowym zerwaniu regularności ich sieci przestrzennej. Defekty występują praktycznie we wszystkich rzeczywistych kryształach, gdyż wynikają z natury procesu krystalizacji. Najczęściej stosowany jest podział defektów wg charakteru ich wymiaru:

  • punktowe
  • liniowe
  • powierzchniowe
  • warstwowe (objętościowe)

Defekty punktowe

Defekty liniowe (dyslokacje)

  • krawędziowe – poprzez wprowadzenie dodatkowej płaszczyzny między nieco rozsunięte płaszczyzny sieciowe (miarą dyslokacji jest wektor Burgersa, wyznaczony poprzez kontur Burgersa i prostopadły do linii dyslokacji krawędziowej)
  • śrubowe – powstają w wyniku przesunięcia płaszczyzn atomowych (wektor Burgersa równoległy do linii dyslokacji śrubowej)
  • mieszane – śrubowa i krawędziowa występujące w strukturach rzeczywistych

Defekty powierzchniowe

  • granice ziaren – wąska strefa materiału,w której atomy są ułożone w sposób chaotyczny. Gdy kąt między dwoma sąsiednimi kierunkami krystalograficznymi jest większy od 15°, to granicę nazywa się szerokokątową, a jeśli mniejszy – wąskokątową.
  • granice międzyfazowe
    • koherentne – atomy granicy międzyfazowej są wspólne dla obu faz,
    • półkoherentne – część atomów granicy międzyfazowej jest wspólna dla obu faz,
    • niekoherentne – atomy granicy są w pozycjach znacznie przesuniętych względem pozycji odpowiadających węzłom sieci graniczących faz; w przypadku stopów metali występuje wtedy największe umocnienie metalu,
  • błąd ułożenia – wskutek dyslokacji krawędziowej (istnieje energia błędu ułożenia)

Defekty warstwowe

  • uskoki sieci krystalicznej
  • nakładanie się dwóch sieci na siebie
  • rozwarstwienie.

Doskonałość kryształu

Miarą doskonałości kryształu jest jego stopień zdefektowania mierzony liczbą defektów w stosunku do teoretycznej liczby atomów, jaką powinna zawierać sieć. Zazwyczaj zdefektowanie sieci rośnie wraz ze wzrostem temperatury. Defekty sieci krystalicznej odpowiadają za różne właściwości kryształów, między innymi półprzewodnictwo typu n lub p, barwę, luminescencję.

Przypisy

  1. Jinhua Hong i inni, Exploring atomic defects in molybdenum disulphide monolayers, „Nature Communications”, 6, 2015, s. 6293, DOI10.1038/ncomms7293 [dostęp 2017-12-26] (ang.).
  2. Defekty struktury krystalicznej, [w:] Encyklopedia PWN [online] [dostęp 2021-07-30].

Media użyte na tej stronie

MoS2 antisites&vacancies.jpg
Autor: Jinhua Hong et al., Licencja: CC BY 4.0

Atomic resolved STEM–ADF images to reveal the distribution of different point defects. (a) Antisite defects in PVD MoS2 monolayers. Scale

bar, 1 nm. (b) Vacancies including VS and VS2 observed in ME monolayers, similar to that observed for CVD sample. Scale bar, 1 nm.