Fib tem sample
Autor:
english User:Cm the p
Attribution:
Obraz jest oznaczony jako „Wymagane uznanie autorstwa” (attribution required), ale nie podano żadnych informacji o uznaniu autorstwa. Prawdopodobnie parametr atrybucji został pominięty podczas korzystania z szablonu MediaWiki dla licencji CC-BY. Autorzy mogą znaleźć tutaj przykład prawidłowego korzystania z szablonów.
Credit:
English wikipedia
Krótki link:
źródło:
Wymiary:
1024 x 800 Pixel (210246 Bytes)
Opis:
SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling.
Licencja:
Warunki licencji:
Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0
Więcej informacji o licencji można znaleźć tutaj. Ostatnia aktualizacja: Tue, 02 Aug 2022 21:10:39 GMT